ブルカージャパン ナノ表面計測事業部、3/26に東京でナノインデンテーション試験のセミナーを開催

　ブルカージャパン ナノ表面計測事業部は3月26日、東京都中央区のベルサール八重洲 Room6（https://www.bellesalle.co.jp/shisetsu/tokyo/bs_yaesu/access/）で、「ナノインデンテーションセミナー2020」を開催する。今回は、昭和大学 柴田 陽 教授と横浜国立大学 多々見 純 教授による特別講演を設けている。定員は40名で参加費は無料（事前登録制）。

　問い合わせ先は以下のとおり。
電話：03-3523-6361 ／ Mail : info-nano.bns.jp@bruker.com
WEB登録サイト：https://mbns.bruker.com/acton/media/9063/ni2020 

　プログラムは以下のとおり。

・13:00～13：15　開会挨拶

・13：15～14：15 【特別講演1】「ナノインデンテーション法による生体組織の力学的評価」昭和大学 柴田 陽 教授

・14：15～14：30 休憩 　　　　　　　　

・14：30～15：40 【特別講演2】「マイクロカンチレバー試験片を用いた材料のメソスケール破壊特性評価」横浜国立大学　多々見 純 教授（兼 神奈川県立産業技術総合研究所 「革新的高信頼性セラミックス創製」 プロジェクト　PL）

・15：40～16：30 「ナノインデンテーション実践的アプリケーション事例」ブルカージャパン ナノ表面計測事業部

・16：30～17：10 「電子顕微鏡組込み型ピコインデンターがもたらす複合的ソリューション」ブルカージャパン ナノ表面計測事業部

・17:10～17：30 質疑応答、アンケート