ブルカージャパン ナノ表面計測事業部、4/24に走査型電気化学顕微鏡ウェビナーを開催

　ブルカージャパン ナノ表面計測事業部は4月24日の14時～15時、オンラインで参加するWEBセミナー（ウェビナー）「走査型電気化学顕微鏡（SECM）によるIn-Situ電気マッピングウェビナー」を開催する。費用は無料（事前申し込み制）。

　同ウェビナーでは、従来の電気化学STMや電気化学AFMでは測定できなかった局所領域の電気化学反応をBruker AFM probesが開発した専用プローブを用いて実現した例を紹介する。一般的なSECMと比較しても水平方向の分解能を一桁向上させることができることや、この針を用いることで従来は気中環境に制約されていた電気測定が溶液中で可能となることなど、In-Situの電気的なマッピングを可能にするBrukerの新しいツールが披露される。

＜ウェビナーの主な内容＞
・AFMを用いた走査型電気化学顕微鏡の動作原理と特徴
・専用プローブについて
・PeakForce Tappingモードとの組合わせによるメリット
・アプリケーション例紹介
・液中電気測定への応用

　同セミナーは手持ちのPC（別途音声を聞くためのイヤホンもしくはスピーカーが必要）からブラウザー経由で参加するWeb形式のセミナーで、申し込み登録後、同社からウェビナー参加のためのログイン詳細を連絡する。

　WEB登録フォーム（ https://goo.gl/Ab5mw8 ）から、もしくは電話（ 03-3523-6361 ）またはメール（ info-nano.bns.jp@bruker.com ）メールで申し込みできる（メールで申し込みの場合はタイトルに「4/24 AFMウェビナー申し込み」と明記の上、勤務先名・ご所属部署・氏名・メールアドレス・住所・TELを記載）。