ブルカージャパン、3/7に東京でナノインデンテーションセミナーを開催

　ブルカージャパン ナノ表面計測事業部は3月7日13:15～17:00、東京都中央区の東京 スペース まる八茅場町（ http://space-maruhachi.com/contact/ ）で「ナノインデンテーションセミナー」を開催する。定員は40名で参加費用は無料（事前登録制）。今回は日産アーク清水悟史氏とセイコーエプソンIan Thomas Clark氏による特別講演を設けている。

　問い合わせ先は以下のとおり。
　電話：03-3523-6361 ／ Mail : info-nano.bns.jp@bruker.com
　WEB登録サイト https://www.bruker-nano.jp/event#ttl-NIseminar2019

　プログラムは以下のとおり

・13：15～13：30　開会挨拶

・13：30～14：30 　[特別講演] 「大気非暴露ナノインデンテーション法による電池材料特性評価（仮）」日産アーク　機能解析部　ナノ物性解析室　清水　悟史　氏

・14：30～15：00 　[特別講演] 「ナノインデンテーションを用いるMEMS材料の機械特性評価（仮）」セイコーエプソン 分析リサーチセンター　Ian Thomas Clark 氏　

・15：00～15：10　休憩

・15：10～15：50　「最新トライボインデンターの動向（仮）」ブルカージャパン ナノ表面計測事業部　長谷川勇人氏

・15：50～16：00　「新登場AFM動的粘弾性評価 nDMA （仮）」ブルカージャパン ナノ表面計測事業部　荒尾昌樹氏

・16：00～16：15　ブルカージャパン 茅場町デモラボへ移動　

・16：15～17:00　装置デモンストレーション & 質疑応答

ハイジトロントライボインデンターTI980