ブルカージャパン、3/19に東京で高分子向けAFM分析技術セミナーを開催

　ブルカージャパン ナノ表面計測事業部は3月19日、東京都中央区の東京 茅場町スペース まる八（ http://space-maruhachi.com/contact/ ）で、「高分子のためのAFM 分析技術セミナー」を開催する。今回は、東京工業大学 中嶋 健 教授による特別講演を設けている。

　問い合わせ先は以下のとおり。
　電話：03-3523-6361 ／ Mail : info-nano.bns.jp@bruker.com
　WEB登録サイト https://www.bruker-nano.jp/afm-ndma-seminar

　プログラムは以下のとおり。

・13：15～13：30　開会挨拶　ブルカージャパン ナノ表面計測事業部 事業部長　相川重夫氏

・13：30～14：40　[招待講演]「AFMを用いたナノレオロジーの可能性」東京工業大学　中嶋 健 教授

・14：40～15：10　「最新nDMAモードとAFM機械特性評価ソリューション」ブルカージャパン ナノ表面計測事業部　寺山剛司氏

・15：10～15：30　休憩（名刺交換）

・15:30～16:10　「ナノインデンテーションを用いた高分子材料の機械特性評価」ブルカージャパン ナノ表面計測事業部　長谷川勇人氏

・16:10～16:50 「高分子のナノスケール赤外分光技術」未定

・16:50～17:00　Q&A、アンケート

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