ブルカージャパン、9/17に欠陥観察・表面計測をテーマにウェビナーを開催

　ブルカージャパンでは、ブルカーＸ線事業部とナノ表面計測事業部の共催で9月17日13 :30～14:30、ウェビナー「欠陥観察・表面計測による課題可視化ソリューション～5G時代の電子材料や電池、医療医薬分野の品質管理に、Ⅹ線CTと3D白色干渉計による多角的評価でできること、わかること～」を開催する。

　参加は無料（事前申込み制）で、以下から申し込みできる。
https://register.gotowebinar.com/register/7959981907717542157?source=BNS-web

　本ウェビナーでは研究・開発・評価・生産管理などで活躍する材料内部の破壊や劣化評価や観察が可能なX線CTシステムと、表面の微小な形状を高分解能で計測・観察が可能な3D白色干渉計のそれぞれの原理・活用事例などをまじえて、以下のとおり紹介する。

・プレゼン①「非破壊で内部構造観察ができるX線CTの原理と測定例」ブルカージャパン X線事業部 アプリケーション部　中山 悠氏…X線CTは、3D X線顕微鏡とも呼ばれ、マイクロオーダーの内部構造を非破壊で3次元情報として観察・評価できる画期的な手法である。電子材料や医薬医療の分野の研究開発・品質管理などに幅広く活用されている。本ウェビナーでは、その原理と実際の測定例を紹介する。

・プレゼン②「非破壊・非接触で表面性状が観察できる白色干渉計の原理と測定例」ブルカージャパン ナノ表面計測事業部 アプリケーションエンジニア　寺山剛司氏…白色干渉計はナノオーダーで表面性状の評価を計測するツールの一つである。測定時間も短く、非破壊・非接触により抜き取り検査ではなく、ライン検査としても使用可能。本ウェビナーで白色干渉計の基礎から、5Gをサポートするような電子基板、医療医薬分野のサンプル例を紹介する。