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第9回ものづくりワールド名古屋

 

ブルカージャパン、6/29、7/8、7/15にナノスケールDMA評価技術でウェビナーを開催

 ブルカージャパン ナノ表面計測事業部(https://www.bruker-nano.jp/)は、原子間力顕微鏡(AFM)、ナノインデンターそれぞれのナノスケールDMA(動的特性)評価技術について、基礎・事例を紹介するウェビナーを開催する。詳細・登録はこちらで確認できる。

 6月29日 13:30~14:10、7月15日 13:30~14:10には「【わかる!AFM】AFM-nDMAの基礎とコツ~高分子材料の機械特性をナノスケールでマッピング~」を開催する。両日とも同内容で、都合のいい日程を選択できる。プログラムは以下のとおり。

・13:30~13:15  「AFM-nDMA 測定評価のご紹介」

・13:45~13:55  「ユーザーインタビュー」
 ゲスト:ブリヂストン 先端材料部門 五十嵐 貴亮氏…nDMA評価について豊富な利用経験を持つユーザーが、nDMAの信頼性や定量性についての考えや注意点などを、ユーザーの視点からコメントする。

・13:55~14:05   「ブルカーnDMA測定デモンストレーション」

 また、7月8日 10:00~10:40には、「ナノインデンター基礎講座~nanoDMA編~」を開催する。本ウェビナーでは、ナノインデンターの機能の一つであるnanoDMA機能に注目し、その原理・アプリケーション事例を紹介する。

ブルカージャパン AFM-nDMA