ブルカージャパン、6/29、7/8、7/15にナノスケールDMA評価技術でウェビナーを開催

　ブルカージャパン ナノ表面計測事業部（https://www.bruker-nano.jp/）は、原子間力顕微鏡（AFM）、ナノインデンターそれぞれのナノスケールDMA（動的特性）評価技術について、基礎・事例を紹介するウェビナーを開催する。詳細・登録はこちらで確認できる。

　6月29日 13:30～14:10、7月15日 13:30～14:10には「【わかる！AFM】AFM-nDMAの基礎とコツ～高分子材料の機械特性をナノスケールでマッピング～」を開催する。両日とも同内容で、都合のいい日程を選択できる。プログラムは以下のとおり。

・13：30～13:15　　「AFM-nDMA 測定評価のご紹介」

・13:45～13：55　　「ユーザーインタビュー」
　ゲスト：ブリヂストン 先端材料部門　五十嵐 貴亮氏…nDMA評価について豊富な利用経験を持つユーザーが、nDMAの信頼性や定量性についての考えや注意点などを、ユーザーの視点からコメントする。

・13:55～14:05　　　「ブルカーnDMA測定デモンストレーション」

　また、7月8日 10:00～10:40には、「ナノインデンター基礎講座～nanoDMA編～」を開催する。本ウェビナーでは、ナノインデンターの機能の一つであるnanoDMA機能に注目し、その原理・アプリケーション事例を紹介する。